高精密氣密性檢測(cè)儀的技術(shù)優(yōu)勢(shì)在于采用微電腦芯片、高精度傳感器以及零泄漏電磁閥以此確保檢測(cè)結(jié)果準(zhǔn)確性。因此，高精密氣密性檢測(cè)儀可以克服外界干擾，實(shí)現(xiàn)直接壓差測(cè)漏，檢測(cè)結(jié)果直觀，性能價(jià)格比高。

那么，影響高精密氣密性檢測(cè)儀測(cè)試精度的主要業(yè)務(wù)因素有哪些？

一、測(cè)試壓力的影響。

具有良好性能的高精密氣密性檢測(cè)儀的試驗(yàn)壓力會(huì)受到工件泄漏率的影響。一般來(lái)說(shuō)，當(dāng)氣泡和裂縫較高時(shí)，試驗(yàn)壓力對(duì)泄漏率的影響較大，而當(dāng)多孔性能較低時(shí)，試驗(yàn)壓力的影響較小。

此外，隨著試驗(yàn)壓力的增加，還會(huì)受到溫度、變形等因素的影響。所以，必須充分考慮高精密氣密性檢測(cè)儀的規(guī)格選擇，以便充分考慮各機(jī)構(gòu)對(duì)測(cè)試壓力的承載力，以免影響高精密氣密性檢測(cè)儀的精度及準(zhǔn)確度。

二、檢測(cè)容量的影響。

高精密氣密性檢測(cè)儀在一個(gè)特定的泄漏率值中，如果檢測(cè)體積增加，相應(yīng)壓力降低速度越低，則需要相應(yīng)增加氣密性泄漏檢測(cè)和測(cè)量時(shí)間。因此，在某些情況下，應(yīng)盡可能降低測(cè)量體積，以達(dá)到測(cè)量所需的靈敏度，并提高儀器的測(cè)試精度。

三、溫度影響。

對(duì)于封閉容器中的氣體，當(dāng)溫度升高時(shí)，其內(nèi)部壓力會(huì)增加，高精密氣密性檢測(cè)儀的測(cè)試結(jié)果可能呈負(fù)值。此外，當(dāng)工件通過(guò)低溫環(huán)境直接進(jìn)行高溫環(huán)境測(cè)試時(shí)，由于溫度差和測(cè)試時(shí)間的不同，高精密氣密性檢測(cè)儀可能會(huì)有更大的泄漏，或不同的測(cè)試負(fù)值，因此溫度的變化不可避免地成為影響壓力變化的一個(gè)重要因素。

不僅如此，穩(wěn)定性強(qiáng)的高精密氣密性檢測(cè)儀測(cè)試還會(huì)受到穩(wěn)定時(shí)間、高精密氣密性檢測(cè)儀參數(shù)的設(shè)置以及測(cè)試材料的影響。可以看出，高精密氣密性檢測(cè)儀的精度對(duì)氣密性檢測(cè)非常重要，因此在氣密性泄漏檢測(cè)過(guò)程中，工件應(yīng)盡量避免這些因素。

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